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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
4位半皮安表結(jié)合了華測(cè)公司高靈敏度電流測(cè)量?jī)x器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及更快的速度和更高的耐用性。這款經(jīng)濟(jì)型的儀器具有5個(gè)電流量程和快速自動(dòng)量程功能，可以測(cè)量10fA到20mA的電流，其測(cè)量速度達(dá)到1000讀數(shù)/秒。122具有的10fA的分辨率與高靈敏度，使它特別適合于低電流測(cè)試場(chǎng)合，而它20mA的量程使它可以測(cè)量較高的電流，如測(cè)量4~20mA的傳感器電流。
詳情介紹：
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01.低電流測(cè)量方案
02.10fA分辨率
03.5位半讀數(shù)分辨率
04.<200μV輸入壓降
05.達(dá)1000讀數(shù)/秒
06.內(nèi)建485型仿真模式
07.RS-232接口
08.模擬輸出
產(chǎn)品參數(shù)
01.電流測(cè)量范圍為±20X10 3A~士1X10 14A(10fA 20mA)
02.表頭顯示: 4.1/2位LED顯示
03.分辨率:10FA
04.使用環(huán)境: 溫度:0C~40C，相對(duì)濕度<80%
05.供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約5W
06.直接切換,直接讀數(shù)。
07.誤差: 10fA 30%
100fA 5%
10pA—20mA 1%
應(yīng)用領(lǐng)域
01.波束監(jiān)測(cè)與放射監(jiān)測(cè)
02.絕緣體、開(kāi)關(guān)、繼電器和其它元件的漏流測(cè)試
03.SEM波束電流測(cè)量
04.光電子器件測(cè)試與特性分析
05.光纖校準(zhǔn)
06.DCLF電路中的電路測(cè)試與分析
07.傳感器特性分析
08.半導(dǎo)體等器件的I-V測(cè)量
09.納米電子器件特性分析
10.教學(xué)實(shí)驗(yàn)
